发布时间：2024年1月10日
平场测量镜头暗角（光线衰减）和其他图像不均匀性。例如，它可以测量闪光灯照明的均匀性（使用从白墙上反射的光）或平板扫描仪的均匀性。在Imatest中，Flat Field还可以分析色彩渐晕（不均匀性）、热像素和坏点以及瑕疵；它还可以显示像素级直方图、网格（扇区）图和精细不均匀性（即传感器噪声）的详细图像。
1、使用平场计算信噪比
以dB为单位的SNR是网格图显示的可选输出，如下面的屏幕截图所示。
2、“均匀性”和“瑕疵”现在合并为“平场”
从Imatest 22.1开始，以前的均匀性和瑕疵分析模块已合并为一个称为平场的分析模块。
注意：为了在Imatest 22.1+ 中使用包含Imatest 2021.2 及更早版本的均匀性和/或瑕疵设置的 INI 文件，您需要通过“INI 迁移实用程序”运行该文件以将它们转换为平面场设置，可访问文章：在22.1版中使用 INI 迁移实用工具
有关新分析模块的更多信息，请访问以下文章：
- 使用 Flatfield-Interactive Analysis
- 使用平场瑕疵检测
- 基于 EMVA-1288 的平场统计
- Flatfield INI 参考
- 使用平场第1部分（批量分析）
- 使用平场，第2部分（批量分析）
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