Flat Field(平场)模块介绍

发布时间:2024年1月10日

平场测量镜头暗角(光线衰减)和其他图像不均匀性。例如,它可以测量闪光灯照明的均匀性(使用从白墙上反射的光)或平板扫描仪的均匀性。在Imatest中,Flat Field还可以分析色彩渐晕(不均匀性)、热像素和坏点以及瑕疵;它还可以显示像素级直方图、网格(扇区)图和精细不均匀性(即传感器噪声)的详细图像。

1、使用平场计算信噪比

以dB为单位的SNR是网格图显示的可选输出,如下面的屏幕截图所示。

2、“均匀性”和“瑕疵”现在合并为“平场”

从Imatest 22.1开始,以前的均匀性和瑕疵分析模块已合并为一个称为平场的分析模块。

注意:为了在Imatest 22.1+ 中使用包含Imatest 2021.2 及更早版本的均匀性和/或瑕疵设置的 INI 文件,您需要通过“INI 迁移实用程序”运行该文件以将它们转换为平面场设置,可访问文章:在22.1版中使用 INI 迁移实用工具

有关新分析模块的更多信息,请访问以下文章:

  • 使用 Flatfield-Interactive Analysis
  • 使用平场瑕疵检测
  • 基于 EMVA-1288 的平场统计
  • Flatfield INI 参考
  • 使用平场第1部分(批量分析)
  • 使用平场,第2部分(批量分析)

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