发布时间：2025年2月7日
Imatest 软件 Flatfield Analysis模块（平场分析）可用于评估平面图像的非均匀性，包括：
- 灰尘颗粒（Dust Particles）
- 坏点 & 热噪声像素（Hot or Dead Pixels）
- 光照衰减（如镜头渐晕，Illumination Falloff / Lens Vignetting）
当对裸露的传感器（无镜头）进行灰尘分析时，光照方式的几何特性 至关重要。不同的光照方式会影响光与传感器表面的交互方式，进而影响微小颗粒的可见性。因此，选择平行光（Collimated Light）（如杂散光LED 光源）或 漫射光（Diffuse Light）（如 LED灯箱） 会对检测结果产生显著的影响。
漫射光（Diffuse Light）
由于漫射光具有发散特性，光线会在传感器表面产生较大范围的散射，因此在裸露传感器（无镜头）上可能难以显现较小的灰尘颗粒。尽管如此，它在检测坏点（Hot Pixels）以及整体亮度均匀性问题方面仍然十分有效。
该图展示了漫射光如何向多个方向散射，使其能够照亮灰尘颗粒背后的区域（当灰尘与传感器像素之间存在间隙时）。由于光线的散射效应，灰尘的可见性降低，尤其是较小的颗粒更难被检测到。
上图是无镜头相机对LED灯箱的漫反射进行成像实验。获取的图像如下图：
平行光（Collimated Light）
平行光（Collimated Light）在检测裸露传感器上的灰尘颗粒时尤为有效。由于其定向照明特性，灰尘会在传感器表面投下清晰可见的阴影，使得即使是微小颗粒也能被精准识别。
该图展示了平行光（Collimated Light）如何以平行光束传播，使灰尘颗粒在传感器像素上投射出清晰的阴影。由于定向照明的作用，灰尘的可见性得到增强，从而使更小的颗粒也能被轻松检测到。
上图是 LED 光源为无镜头相机提供均匀的平行光照明实验。获取的图像如下：
由上图课件，使用平行光源拍摄的图像清晰度展现了灰尘对传感器的影响——灰尘颗粒产生可见的衍射图案，而较大的颗粒则会投下明显的阴影。可检测到的最小灰尘尺寸取决于灰尘与传感器之间的距离（即传感器保护玻璃层的厚度），以及传感器的设计机构和灵敏度等因素。
对上述平行光源图像的局部放大后，显示了光与传感器保护层上的灰尘颗粒相互作用产生的衍射图案和阴影。
imatest Flatfield Blemish 分析结果
Imatest 的Flatfield Analysis（平场分析）可用于检测平行光源图像中的各种瑕疵与伪影。其瑕疵检测功能支持调整滤波和阈值，以便精准识别并隔离由灰尘引起的伪影。
分析结果包括检测到的瑕疵数量、位置及大小，并可输出至 CSV、JSON 等标准格式文件，便于进一步分析与处理。
上图结果显示：平行光源图像中由灰尘引起的瑕疵。
哪种光源更适合你？选对了吗？
| 光源类型 | 适用场景 | 特点 |
| 漫射光 | 均匀性测试、热点像素检测 | 低对比度，不适合灰尘检测 |
| 平行光 | 传感器灰尘检测 | 高对比度，能清晰显示灰尘阴影 |
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