星图测试和斜边测试的差异


1.西门子星图的特征图案是从外圈低频轮廓到中心高频细节纹理,测试卡的分辨率如果高于相机分辨率,会在中心无法分辨细节,且星图受锐化和降噪的影响较小。


2. 斜边计算SFR/MTF,与斜边的对比度关系密切,测试时建议使用低对比度的测试卡,且斜边的测试方法容易收到锐化影响。但是斜边的测试方法较能体先相机对焦的真实状态。

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