1、对于SFR分辨率测试，为什么测试卡有1X，2X，4X尺寸的区分选择？
由于摄像头的焦距、景深不同，需要在不同的距离下进行测试，比如手机前置摄像头，景深范围接近30-100cm，最佳的对焦位置在50-65cm之间，那这种情况我们首先满足景深，也就是选择测试距离在50-65cm左右的测试距离。
定了测试距离后，我们再考虑测试卡大小的选择，这可以参考相机的FOV，一般可以通过三角函数计算。所以建议在合适的景深下，根据视场大小来选择不同倍数的测试卡。
2、测试卡的2000线、4000线又该如何选择？
在使用ISO 12233测试卡进行测试时，当摄像机的极限分辨率大于2000线的量程时，就需要用更高精度的测试卡来进行测试，比如4000线的测试卡。甚至对于一些超分辨的相机来说，比如6000W像素或8000W像素，甚至更高的分辨的相机，则需要定制高精度的测试卡辅助测试。
3、在使用Imatest分析24色卡的时候，对于不同的光源（3000K/4000K/5000K/6500K等），都选择相同的“参考”数据吗（默认Colorchecker参考数据）？还是不同的色温需要选择不同的参考数据？
是的，我们建议选择同样的色卡参考数据，反射式24色卡，常用的是X-Rite defalut：post-Nov2014 D50。
不用根据色温选择不同的参考数据，一般来说较佳的相机白平衡效果是希望相机能在不同的复杂色温条件下还原白色到一个理想状态。那就是说相机具备了自动白平衡功能，会自己调整白平衡效果。
选择D50的参考文件，是因为D50色温较贴近日光，行业里喜欢用这个色温下的白平衡做对比。期待自己的成像系统无论在什么样的色温场景下，AWB都能做到D50色温下的效果。
4、关于TV畸变测试，到底是用反射卡还是透射卡测试？
畸变，是与镜头光学性能强相关的参数。当成像系统的对焦效果和曝光效果适中时，测试卡的材质对于畸变测试的影响，可以忽略。
诚然，对于多数的数字成像系统来说，通过图像处理可以修正畸变。不过对于畸变测试而言，环境的光亮度、对焦的清晰程度，会影响畸变测试，但不会造成很大的畸变率计算偏差。
5、环境光亮度和清晰度具体是如何影响畸变测试呢？
环境光亮度会影响畸变分析，通常是模组端测试会遇到这个问题。当sensor限定了1X增益，用了低对比度的反射测试卡，在较暗的环境光下拍摄畸变测试卡（棋盘格或网格图），画面整体会出现过暗的情况。
尤其在边缘和角落，未做shading修正会有明显的暗角。这会导致算法丢失部分ROI区域（暗角区域的信息无法被算法统计，导致计算畸变失败）。这种情况下，建议增加曝光时间，增大增益，使得画面亮度合适。或者直接使用透射测试卡进行测试（透射光源一般可以支持更高亮度调节范围）。
清晰度会影响畸变分析的情况，一般在长焦摄像头测试较常见。对于实验室资源或测试卡资源短缺的用户来说，不一定有合适尺寸的测试卡做测试。比如只有小尺寸的畸变测试卡（棋盘格测试卡），但是摄像头是长焦，需要在10m外才能对焦清楚。为了分析camera全局的畸变率，不得不使测试卡充满成像画面。
但这种情况下，需要将摄像头离得很近，才能拍全测试卡，导致的结果就是画面极其模糊，难以区分分界线。无论是对于肉眼观测，还是算法解析棋盘格边界线来说，都是比较大的挑战。那这时，比较方便的解决办法是，用户更换较大的图卡去拍摄相对清晰的图片进行分析。
另外，对于超广角相机（160°以上）的畸变来说，即使解决了清晰度和曝光效果的问题，超广角相机TV畸变的测试仍是一个比较大的挑战。因为边缘和角落过大的畸变，给算法带来了ROI检测和计算的挑战。
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